Przegląd produktów LECO Corporate

Pozwól nam udoskonalić Twoje wyniki

Od ponad 80 lat klienci ufają rozwiązaniom analitycznym firmy LECO. Dostarczamy doskonałe rozwiązania dla wielu różnych rynków. Minerały i metale, rolnictwo, żywność, analiza środowiska, energia i nauki przyrodnicze (próbki farmaceutyczne, metabolomika, medycyna sądowa, zapachy, aromaty i inne)

 

ANALIZA PIERWIASTKOWA | ORGANICZNA

Seria 928 | Węgiel/azot/siarka/białko

Seria 928
Węgiel | Azot | Siarka | Białko

Seria 828 | Węgiel/wodór/azot/siarka/białko

Seria 828
Węgiel | Wodór | Azot | Siarka | Białko

Seria 832 | Siarka/węgiel

Seria 832
Siarka | Węgiel

AC600 | Kalorymetria

AC600
Kalorymetria


TGM800 | Termograwimetryczne oznaczanie wilgoci

TGM800
Termograwimetryczne oznaczanie wilgoci

 

TGA801 | Analizator termograwimetryczny

TGA801
Analizator termograwimetryczny

 

ANALIZA PIERWIASTKOWA | NIEORGANICZNA

CS844 | Węgiel/siarka

Seria 844 | Seria 744
Węgiel | Siarka

 

ONH836 | Tlen/azot/wodór

Seria 836 | Seria 736
Tlen | Azot | Wodór

 

RC612 | Węgiel/woda

RC612
Węgiel | Woda

 

DH603 | Wodór

DH603
Wodór

 

SPEKTOMETRIA MASOWA W NAUKACH SEPARACYJNYCH

Pegasus BT | GC-TOFMS

PEGASUS® BT
GC-TOFMS

Pegasus BT 4D | GC×GC-TOFMS

Pegasus® BT 4D
GC×GC-TOFMS

GC×GC ECD/FID

GC×GC
ECD/FID


Pegasus® GC-HRT+ | GC-TOFMS o wysokiej rozdzielczości

Pegasus® GC-HRT+
GC-MS o wysokiej rozdzielczości

 

Pegasus® GC-HRT+ 4D | GC×GC-TOFMS o wysokiej rozdzielczości

Pegasus® GC-HRT+ 4D
GC×GC-TOFMS o wysokiej rozdzielczości

 

SPEKTROSKOPIA

GDS9090 | Spektrometry emisji atomowej z jarzeniowym źródłem wzbudzenia

GDS900
Spektrometry emisji atomowej z jarzeniowym źródłem wzbudzenia

 

METALOGRAFIA

Seria SX100M | Przecinarka

Seria SX100M
Przecinarka

Seria MSX | Przecinarka

Seria MSX
Przecinarka

Seria MX | Inkludowanie

Seria MX
Inkludowanie


PX300 | Szlifowanie/polerowanie

PX300
Szlifowanie | Polerowanie

PX400/500 | Szlifowanie/polerowanie

PX400/500
Szlifowanie | Polerowanie


Seria LR/LCR Rockwell-Type | Badanie twardości

Seria LR/LCR Rockwell-Type
Badanie twardości

Seria LM | Badanie twardości

Seria LM
Badanie twardości

Seria LV | Badanie twardości

Seria LV
Badanie twardości

Systemy do badania twardości AMH55 | Zautomatyzowane badanie twardości

Systemy do badania twardości AMH55
Zautomatyzowane badanie twardości

 

ANALIZA OPTYCZNA

Mikroskop cyfrowy Macro | Analiza obrazu i zarządzanie

Mikroskop cyfrowy Macro
Analiza obrazu i zarządzanie

VX4 Odwrócony mikroskop | Analiza obrazu i zarządzanie

VX4 Odwrócony mikroskop
Analiza obrazu i zarządzanie

System zarządzania obrazami IA44/PAX-it™ 2 | Analiza obrazu i zarządzanie

System zarządzania obrazami IA44/PAX-it™ 2
Analiza obrazu i zarządzanie


 

ZAREZERWUJ DEMO ONLINE

 

Powered by Translations.com GlobalLink OneLink Software