AMH55Oprogramowanie do automatycznych pomiarów twardości
Maksymalna produktywności i łatwe pomiary nawet na trudnej powierzchni próbek możliwe dzięki najnowszym rozwiązaniom LECO AMH55. Dzięki wprowadzeniu innowacyjnego oprogramowania LECO Cornerstone do naszych systemów pomiaru twardości AMH55 uproszczono obsługę i sposób raportowania oraz skrócono czas analizy. System AMH55 dostępny jest dla mikro oraz macro obciążeń Vickers’a w wersjach w pełni automatycznych, półautomatycznych oraz wersji lite dzięki czemu, jest cennym narzędziem dla profesjonalistów wymagających precyzyjnych rozwiązań, odpowiadających aktualnym potrzebom pomiarów twardości przy jednoczesnym zachowaniu najwyższej produktywności.
Ten film jest dostępny na zewnętrznej stronie Vimeo. Jeśli się nie załaduje, możesz go zobaczyć tutaj.
Zalety
- Zaawansowana technologia rozpoznawania obrazu umożliwia analizę informacji niedostępnych przy zastosowaniu tradycyjnych metod progowych.
- Możliwość wykonywania pomiarów nawet na powierzchni porysowanej, wytrawionej lub nierówno oświetlonej.
- Oprogramowanie Cornerstone z interfejsem dotykowym pozwala na pełną kontrolę użytkownika nad parametrami analizy, ustawieniami metod, kalibracjami, raportowaniem i innymi funkcjami, dzięki czemu pomiary można dostosować do konkretnej aplikacji.
- Możliwość wyboru spośród poniższych konfiguracji:
- W pełni automatyczny AMH55
- Jednoczesne automatyczne wyrównanie i automatyczne narzędzia parafokalne, a także automatyczna kalibracja pikseli i korekcja cieniowania
- Opcjonalny moduł zaawansowany do tworzenia mapy kolorystycznej rozkładu twardości na powierzchni.
- Szerokie możliwości tworzenia raportów danych.
- Zmotoryzowany ruch w osi X, Y i Z
- Półautomatyczny AMH55
- Automatyczna lokalizacja i pomiar odcisków, automatyczne wyrównanie i kalibrację pikseli
- Szerokie możliwości tworzenia raportów danych.
- Zmotoryzowane osie X i Y
- Ręczne ustawianie ostrości (z zatwierdzeniem przez oprogramowanie)
- AMH55 Lite
- Automatycznie lokalizuje i analizuje odciski w polu widzenia
- Automatyczna kalibracja pikseli
- Szerokie możliwości tworzenia raportów danych.
- Ręczna obsługa osi X, Y i Z z opcjonalnymi cyfrowymi mikrometrami do śledzenia ruchu stolika
- Możliwość rozbudowy AMH55 do wersji automatycznej lub półautomatycznej
- W pełni automatyczny AMH55
