GDS950Spektrometr emisji atomowej z jarzeniowym źródłem wzbudzenia o rozszerzonym zakresie

Jarzeniowe źródło wzbudzenia ma wiele zalet, w tym:

• Proste, liniowe kalibracje w porównaniu do innych źródeł
• Kontrolowane wzbudzenie, które występuje z dala od powierzchni próbki
• Zmniejszone zużycie materiału referencyjnego
• Automatyczne czyszczenie między analizami oszczędza czas i minimalizuje efekty matrycy, co zwiększa wydajność analityczną

System detekcji zapewnia stabilność, elastyczność i wydajność, o następujących specyfikacjach:

• Objęcie pełnej długości fali od 120 nm do 460 nm
• Rozdzielczość 30 pm (0,030 nm), aby rozróżnić nawet najbardziej złożone cechy widm masowych

Dostępna jest opcjonalna obsługa analizy CDP.

• Profilowanie głębokościowe składu stałych próbek przewodzących elektrycznie
• Idealny do powlekania galwanicznego, cynkowania, platerowania i innych przewodzących obróbek powierzchni.

Oprogramowanie Cornerstone upraszcza analizę i raportowanie.

GDS950 jest idealny do masowego oznaczania elementarnego w metalach lub innych materiałach stałych, takich jak stal, żeliwo, tytan i inne metale. Gdy jest wyposażony w opcję CDP, rozszerza możliwości analizy profilu głębokości składu cech powierzchni, takich jak poddane cynkowaniu, powlekaniu, obróbce cieplnej i platerowaniu. Ilość zastosowań może zostać dodatkowo rozszerzona dzięki opcji lampy DC/RF, która zwiększa zarówno możliwości analiz masowych, jak i CDP, o stałe nieprzewodzące materiały, takie jak farba, szkło, tworzywa sztuczne i inne.

Spektrometr emisyjny z jarzeniowym źródłem wzbudzenia (GDS) wykorzystuje analityczną metodę bezpośredniego oznaczania składu pierwiastkowego próbek stałych. Przygotowana płaska próbka jest montowana na źródle wzbudzenia jarzeniowego, a następnie źródło jest wyjmowane i ponownie wypełniane argonem. Pomiędzy próbką (katodą) a uziemionym elektrycznie korpusem lampy (anodą) stosowane jest stałe pole elektryczne. Warunki te powodują spontaniczne tworzenie stabilnego, samowystarczalnego wzbudzenia, które nazywa się wyładowaniem jarzeniowym.

Zastosowane natężenie prądu jest regulowane przez zasilacz, a napięcie lampy utrzymywane na stałym poziomie przez regulację ciśnienia argonu. Natychmiast po wytworzeniu plazmy powstające w niej jony gazu obojętnego są przyspieszane przez pole elektryczne w kierunku katody. W procesie zwanym rozpylaniem katodowym energia kinetyczna jest przenoszona z jonów gazu obojętnego do atomów na powierzchni próbki, co powoduje emisję niektórych z tych atomów powierzchniowych do plazmy.

Modele przyrządów wyposażone w opcję częstotliwości radiowej (RF) wykorzystują energię o częstotliwości radiowej (zamiast prądu stałego) do generowania wzbudzenia jarzeniowego. Opatentowany przez LECO algorytm True Plasma Power służy do korygowania strat mocy promieniowanej i odbitej. True Plasma Power poprawia zdolność modeli wyposażonych w RF do wykonywania ilościowej analizy masowej oraz ilościowej analizy profilu głębokości dla próbek przewodzących i nieprzewodzących elektrycznie.

Atomy w plazmie podlegają niesprężystym zderzeniom z elektronami energetycznymi lub metastabilnymi atomami argonu. Energia przenoszona przez takie zderzenia powoduje, że rozpylone atomy stają się elektrycznie wzbudzone. Wzbudzone atomy szybko wracają do niższego poziomu energetycznego, emitując fotony. Długość fali każdego fotonu jest określona przez konfigurację elektronów atomu, z którego został wyemitowany. Ponieważ każdy pierwiastek ma unikalną konfigurację elektronów, można go zidentyfikować na podstawie jego unikalnej sygnatury spektrochemicznej lub widma emisyjnego.

Spektrometr służy do pomiaru sygnałów emisji ze wzbudzenia jarzeniowego. Aby media w spektrometrze były przezroczyste dla światła ultrafioletowego i widzialnego (120–460 nm), cały układ optyczny jest oczyszczany argonem. Światłoczułe matryce CCD są umieszczone w płaszczyźnie ogniskowej w taki sposób, że rejestrowane jest pełne spektrum emisji od 120 do 460 nm.

Matryce CCD przekształcają widmo w sygnał elektryczny, który jest digitalizowany i przetwarzany w celu usunięcia sygnału ciemnego prądu, znormalizowania reakcji pikseli, rozszerzenia zakresu dynamicznego i wyeliminowania pikselizacji. Ponieważ liczba fotonów emitowanych przez każdy pierwiastek jest proporcjonalna do jego względnego stężenia w próbce, stężenia analitu można wywnioskować przez kalibrację z referencyjnymi próbkami o znanym składzie.